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      针对LED进行寿命测试，设备硬件依据LM-80标准测试方法开发设计，完全符合LM-80测试要求。该系统可精确设定高低温环境，使LED暴露在高温环境下，同时又精确控制LED结温，使LED在高温条件下老化，加速其光度衰减。并可根据不同时间节点的测试数据，推算出LED的寿命。系统设计极为人性化，LED老化设备方便与积分球系统对接测量，有效的提高测量效率。

特点

  环境温度能够有效控制LED的老化环境温度，即周围空气温度

  湿度控制对于老化温度箱内的湿度进行自动控制，并满足LM-80要求

  壳温控制能够控制每一组LED的壳温

  温度测试在厂家指定TS点的情况下，能够对每一颗LED的壳温进行测试

  电流控制每一颗LED由独立电流源供电，可单独控制输出电流

  时间采集精确采集每一组LED被点亮的老化时间

  故障管理自动扣除失效LED的老化时间

  关闭周期开关型LED，自动扣除关闭半周的时间

  测试速度能够在120秒内测量一组20颗LED

  光度测试5/10/20颗LED一组，每颗LED可顺序切换，单独测试光度值

  色度测试5/10/20颗LED一组，每颗LED可顺序切换，单独测试色度值

  系统标准标准灯可追溯到NIST

  条码扫描可根据要求拓展条形码扫描功能，自动读取产品编号

  控制备份有自主备份计算机，既可实现数据备份，也可实现控制备份

  测试参数包括光度参数、色度参数、温度参数、湿度参数、时间参数、电学参数

  系统分离整个系统分为老化、测量、分析输出三部分

  寿命估算提供参考寿命估算模型，也可以定制分析方法

  测试报告自动输出测试报告，并根据分析方法，得出寿命推算值

案例

  东莞质检

  常州质检