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日本电测涡电流式膜厚计 DMC-211
日本电测涡电流式膜厚计 DMC-211应用涡电流感测原理进行膜厚测量。对于金属上的各种皮膜（铝合金上的阳极处理、钢铁上镀锌、铬等电镀或涂装）及非金属上的各种金属皮膜（塑胶上的电镀等）都可以在一秒钟内以非破坏方式测定完成。
型号：DMC-211
测定方式：涡电流感测法
测定模式：膜厚测定，合金组成测定
显示方式：计算机荧幕
测定频道：具40个频道供登录
资料容量：约100,000个
统计分析：最大值、最小值、平均值、标准偏差、柱状图等
测量范围：依测头型式及镀层不同而异
最小显示：0.001um
测量单位：mm、um、mil、MI、A
电源：AC100~240V(50/60Hz)
尺寸重量：280(W)x230(D)x88(H)mm，3.0kg
测头规格：标准测头：∮5mm
微小测头：∮3mm
测头导线：长度900mm
测头种类：MP（标准型）、MPG（附导引）、SM（微小型）、RP（管径内面用）、SR（小管径内面用），测头依不同膜厚测定分为A、B、C、D四种型式
测头引导：#180：平面测定；#120：∮25~∮60mm凸曲面测定用；#90：∮30以下凸曲面测定用
DMC-211 为电子应用非破坏膜厚测量仪器
本机可正确地、快速精确地测量金属上金属皮膜、非导电性皮膜、非导电性底材上金属皮膜。
本机器可测量之镀层如下：
．铝上金属皮膜、阳极皮膜、硬氧膜、涂装、有机皮膜等。
．铁上各种金属皮膜 ．塑料上电镀、蒸着膜、导电性皮膜等。及其它各种的皮膜测定。
此非破坏式测定，可应用于制品的全数检查及制程中的检查。
自动读取法于探头接触测定物，当移开测定物时即可得知数据。而且较难测定之形状测定物，均可简单地测得。
本机采用计算机操作，相当简单。中文窗口操作系统，任何人只要看着计算机画面即可简单地操作。
测定原理
高频率电流的测头接触金属，使表层产生涡电流。此涡电流依磁场的强度、频率及金属的导电度、厚度、形状而受影响、而使浸透深度大小而不同。
涡电流会抵消磁场的流动。测定物的膜厚在测头的频率、阻抗而有变化。
此频率阻抗变化，换算成膜厚，由计算机画面表示之。