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津仪器推出了新款手持式 X 射线荧光光谱仪，
可满足土壤中重金属分析的要求。
牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式 X 射线荧光光谱仪 (XRF) — X-MET5000，该仪器能够对土壤中的污染元素进行高精度、高可靠性的鉴定。牛津仪器的手持式 X 射线荧光光谱仪誉满全球，X-MET5000 是其第四代产品。
这款拥有牛津仪器 PentaFET® 专利探测器技术的仪器，保证了用户对所有感兴趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。
X-MET5000可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。
国家立法严格保护土壤质量，使得土壤中重金属鉴定日显重要，同时，通过预先分拣受污染的土壤也可以大幅度降低垃圾填埋的费用。这款新产品可在数秒内完成对“可疑污染区域”的分析，十分便捷高效。
其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果，从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET5000 能够识别材料类型，并自动选择最佳分析方法。
借助于其可选配的台式支架，可免除执行多分析任务时的手工操作，同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。
技术参数：
主要特点：
这款拥有牛津仪器 PentaFET® 专利探测器技术的仪器，保证了土壤中重金属均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。