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东莞市大川机械有限公司 高精密磨削部

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销售美国ZMIKE激光测径仪
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产品: 浏览次数:5647销售美国ZMIKE激光测径仪 
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详细信息

产品特征简要说明(Introduction):

高质量的测量是测量仪表、测量方法及测试人员有机配合的整体。与传统的接触式外形几何尺寸测量仪表比较,BenchMike中采用了激光非接触测量原理。对原始测量数据自动采集、处理,数字显示等技术,降低了由于测量方法及测量人员造成的误差。从而提高了整个测量的精度。在某些工业应用场合中,如产品出厂检验中,单位时间内需完成大量的测量。此时,在兼顾测量精度的同时,对测量速度提出了更高的要求。BenchMike提供了高速DSP核心处理单元,友好界面的显示控制软件及多种接口用于数据及通讯,将使用者从繁重的测量中解放出来。
总之,BenchMike不仅是一测量中心,还是一测量数据处理中心,也是一测量数据交换中心。其具备的强大功能保证了其可应用于广泛的领域,同时也使测量更加简单。特别需要指出的是对于一些柔软、易碎、辐射、高精度要求等传统接触测量束手无策的被测量任务,BenchMike可提供满意的测量。
■主要特点:
◆测量精度高,测量速度快。使本仪表可满足不同测量应用领域。
◆丰富的测量模式满足不同的测量应用。
◆采用了全新数据处理技术,图形用户交互(GUI)界面、快捷按键的使用使测量更直观,操作更便利。
◆内含测量应用库及自编辑被测量功能,配合专门设计的夹具及多种输入/出口,使仪表具备良好的测量扩充能力。
◆单点及双点自校准功能减少了使用条件的变化对测量的影响,使仪表维护更方便。
■典型测量功能:
配合测量夹具,本仪表可对下列被测量进行直接测量,自动完成测量数据的采集、处理、通讯、功能。另用户可基于这些测量功能设计更多的测量方案等等

测量原理:

采用激光扫描原理进行测量,激光发生装置产生的激光,照射在马达驱动的高速旋转棱镜上,通过发射透镜组在测试区间中形成标准扫描平行光束,测试区间中的被测量物体遮挡光束形成的阴影,会在光电收集端形成信号的阶跃,阶跃宽度及位置决定了被测量物体的直径及在测试区间位置等参数

技术参数:

型号283-10283-20
测量范围0.075-25.4mm(0.003-1.0in)0.625-50mm(0.025-2.0in)
复现性误差0.25µm(0.000010in)0.5µm(0.000020in)
线性误差±0.9µm(±0.000036in)±1.5µm(±0.000060in)
测试区间范围±0.75*25mm(±0.030*1.0in)±1.5*50mm(±0.060*2.0in)
扫描光尺寸125µm(0.005in)250µm(0.010in)
扫描光速率50m/sec(2000in/sec)100m/sec(4000in/sec)
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