点击图片查看原图
LP1000、LP2000相位延迟测量仪
超高精度相位延迟测量仪
本测量仪的专利技术已通过国家权威机构认证并成为国家标准《GB/T 26827-2011》，属国际首创的可溯源的相位延迟测量方法。基于此技术的相位延迟测量仪有两个型号产品LP1000和LP2000，分别适用于在线检测和实验室标定检测。
应用场合
波片相位延迟测量（如1/4波片、1/2波片、全波片），光学玻璃、晶体材料内应力测量
系统特点
能测量任意大小相位延迟，精度可达0.1度（λ/3600）；可以溯源到长度基准——激光波长；适用于测量光学元件内的微小内应力；测量过程自动化，除取放样品外，无需人工操作，15秒内自动完成测量；