日本电测荧光X线膜厚仪EX-3000 1.采用中文视窗操作系统,操作简单方便。2.厚度测量极限,分辨率0.001um 3.可测试项目:单层膜厚,双层膜厚,三层膜厚,化学镍膜厚,铅合金膜厚及组合压铸锌镀铜,二层同时测定、元素光谱分析.