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两液槽X-2000型两液槽温度冲击试验箱
本产品是采用人工加速的方法考验电子元器件、微电路器件耐受温度剧变的抵抗能力的装置。具有浸渍液使用量少，双筐同时工作效率高等特点，并有独特挥发浸液回收装置，亦可用水作为浸渍液。满足标准
●GJB548A-96
●GJB360A-96
●MIL-STD-883D
试验方法双样品筐作垂直上下及旋转运动,分别交替浸入两液槽(高温槽和低温槽)试验浸液不氧化惰性液体、水两液槽的温度范围高温槽：25～150℃可调 低温槽：25～-65℃可调样品筐尺寸120××120×120(毫米)液槽容积冷槽7.6公升 热槽5.9公升样品重量≤600克（每筐300克）样品装载量≤1kg（单个样品最大重量0.2kg）样品转移时间≤10秒槽温上升时间热槽浸液FC70：25℃～150℃约90分钟槽温下降时间冷槽浸液FC77：25℃～-65℃约120分钟液槽温度波动度≤±2℃制泠系统全封闭或半封闭压缩风冷机组样品架驱动方式气动控制方式微机程控安全保护具有超温、断电保护装置MTBF≥500小时样品在两液槽的停留时间为0～30分钟，分别可调样品在温度冲击(循环)次数0～99次可预置样品能够按照预置的时间和循环次数自动运行、转换 精确查询：
两液槽