HIOKI日置高速测试仪3506

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

反复测量精度更高，最适合生产线校正维修功能，减低由环境的温度变化影响测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能比测仪的设定值和测定值的同步显示2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量根据BIN的测定区分容量比测仪和触发器同步输出功能

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

基本参数

测量参数	C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tan δ)
测量范围	C:0.000fF ～ 15.0000mF D:0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9
基本确度	（代表值）C:±0.14% rdg.D:±0.0013 ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率	3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz,3506: 1kHz, 1MHz
测量信号电平	500mV, 1V rms
输出电阻	1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外)
显示	LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间	代表值: 2.0 ms （FAST） ※ 测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能	BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大40VA
体积及重量	260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件	电源线× 1, 电源备用保险丝× 1

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