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S&AW2800B晶体振荡器温度特性测试系统

一、       名称

晶体振荡器温度特性测试系统

二、       型号

W-2800B

三、       原产地

美国

四、       主要用途和功能

l全面而广泛的振荡器波形分析

l可选测试参数和用户自定义QC界限

l用户友好的Winduows系统软件

l所有数据可经由Microsoft Access和导出到Excel进行实时分析和监控

l标准的四层测试圈有196个工位，另有8Pin或者14Pin封装和SMD封装尺寸的测试座可供选择

l可测量（5V&3.3V）PECL、ECL、TTL和HCOMS带矩形波和正弦波输出

l通过插入不同模块轻松改变负载电路

l全部配置图形和列表均可打印输出

l测试结果可通过网络共享

五、       工作原理及组成

1.使用Saunders第三代水冷式双级压缩机制冷，振荡器温度测试成本最低。温箱升温每分钟60℃，降温从+55℃to- 50℃只要55分钟。

2．使用Saunders自行开发的新一代高频测试头，量测振荡器可到1GHz。如配合600MHz示波器，方波波形参数量测可到150MHz，量测功能最齐全。

3．每盘都可同时量测不同频率的振荡器。

4.系统组成：

.DIPPallet测试圈和SMD Disc Pallet测试圈

.维修备件Spare Parts Kit

六、       晶体振荡器测试操作过程

1.测试头不变，插上不同的负载板，即可测试不同种类的振荡器，如CMOS变微微LVPECL。

选配双输出载盘及双输出测试座，可在一次温度测量时量测LVPECL及LVDS的双输出波形。

Windows平台，即时图形显示，模拟曲线匹配及误差，数字及统计图输出。

1.适用产品尺寸。

SMD: 2520, 2532, 3250, 3560, 5070, 9014等

DIP: Full size, half size

Use different pallets for different size.

2.适用产品种类

1 GHz以下的TTL, CMOS, ECL, PECL, LVPECL, LVDS.

七、       主要技术规格

a)    振荡器频率测量范围Oscillator Frequency Range:10 KHz –1GHz；

b)    温度稳定性（Stability）：±0.1℃（在正常电压及室温下）；

c)    温度均匀性（Uniformity）：

±0.75 ℃，–55 ℃ to＋125℃（载盘2、6、10点钟方向）；

±0. 5 ℃，–40 ℃ to＋85℃（载盘2、6、10点钟方向）；

d)    精度（Accuracy）：±0.5 ℃.（温度传感器精度）；

e)    温度转换速度：－55℃to＋50℃：大约15分钟；＋55℃to -50℃：大约55分钟

f)     温度范围：－55℃to＋125℃（机械制冷）；

g)    额定功率：典型值7KVA（视温度情况而定）；

h)    制冷方式：水冷式（复叠压缩机组机械制冷，使用绿色环保制冷剂）。

i)  量测参数: Frequency，Start Time，Start Voltage，Supply Current，Waveform (Rise Time，Fall Time，Duty Cycle，V High，V Low)，VCXO Pullability and Linearity，Tri-state(三态测试)。