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高精度涡电流膜厚计 LH-200J 
产品概述：
高精度涡电流膜厚计 LH-200J 采用了涡流测厚方法，可无损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
规格参数：
测定方法：高频涡流式
测定对象：非磁性金属上绝缘层
测定范围：0～800μm或0～32.0mils
测定精度：<50μm±1μm； >50μm±2%
分辨率：<100μm，0.1μm； >100μm， 1.0μm
显示方式：LCD数位荧幕显示 61(D)x29(H)mm
操作面板：密封防水按键
最小测量面积：3x3mm
校正记忆功能：4组，任何时间开机不需重新校正
界限值功能：可任意设定上、下限判别功能，超过范围时以音响警示
资料记忆数：1500点
统计功能：测量次数、平均值、最大值、最小值、标准差值
测量功能：单点测试、连续扫瞄测试，可测试膜厚分布变化
打印机：24 character内藏感热式打印机，自动统计记录，纸宽58mm
电源：AC110V/60Hz或主机单3号电池x6，打印机单3电池x4
尺寸：120(W)x250(D)x55(H) mm
重量：约1.1 Kg
测量方式：内藏测头单点测试
测量单位：公、英制可任意切换（μm/mils）
附属品：铝素材、校正用标准片、电池、携带套、操作说明书、曲面固定器、测头、AC插头
生产厂家：株式会社ケツト科学研究所 Kett Electric Laboratory
供应商：上海益朗仪器有限公司 Shanghai Yilang Instruments Co.,Ltd. 
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