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MJLD型吸收率和法向发射率测量装置

MJLD型吸收率和法向发射率测量装置  产品介绍  MJLD型吸收率和法向发射率测量装置,主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射

  • 产品单价: 面议
  • 品牌名称:

  • 产地:

    北京

  • 产品类别:

    热学计量器具

  • 有效期:

    长期有效

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产品参数

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有效期至: 长期有效 品牌:

详情介绍

MJLD型吸收率和法向发射率测量装置



  产品介绍
  MJLD型吸收率和法向发射率测量装置,主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体,配有计算机和专用工作软件,实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天军工科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创,填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白,同时在测量方法上有进一步的创新。

  产品技术指标
  法向发射率
  测量范围:0.05~0.99;
  工作温度范围:-30~80℃;
  测量不确定度:当εn>0.7 为±1.5%;当εn<0.2 为±5%;其余为2%;
  探测器:平面热电堆;
  峰值波长:8.4~11μm;

  吸收率
  测量范围:0.02~0.99;
  工作温度范围:-30~80℃;
  测量不确定度:当αs>0.8 为±2.0%;当εn<0.2 为±4%;其余为2.5%;
  积分球直径:Φ150;
  光源高色温:220V300W;
  探测器:真空平面热电堆;
  工作波长:0.35~2.5μm;
  用途
  测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。

 

联系电话:010-82461422

E-mail:bjmjld@163.com

QQ :604927991

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