| 型号: N5000 | 品牌: HANWA |
| 起订: 1 | 供货总量: |
| 发货期限: 自买家付款之日起 7 天内发货 | 所在地: 北京 |
| 有效期至： 长期有效 | 品牌：HANWA |
详情介绍
用于检测集成电路、分立器件及Wafer等产品的抗静电能力。
主要功能:
模拟静电产生模式（即人体模式（HBM）、机器模式（MM）和闩锁模式）来检测集成电路、分立器件及Wafer等产品的抗静电能力。
主要特征：
测试针数量可达1024针 ；
HBM Voltage：0-8KV；
M M Voltage：0-4 KV；
具有Latch Up功能等。
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