华商宝

​

美国NANOVEA公司纳米压痕仪

1，仪器简介：

美国NANOVEA公司的纳米压痕仪主要用于测量纳米尺度的硬度与弹性模量，可以用于研究或测试薄膜等纳米材料的接触刚度、蠕变、弹性功、塑性功、断裂韧性、应力-应变曲线、疲劳、存储模量及损耗模量等特性。可适用于有机或无机、软质或硬质材料的检测分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩绘釉漆，光学薄膜，微电子镀膜，保护性薄膜，装饰性薄膜等等。基体可以为软质或硬质材料，包括金属、合金、半导体、玻璃、矿物和有机材料等。
2，技术参数：

载荷范围：0-400mN 
载荷分辨率：30nN 
最大压入深度：250um 
位移分辨率： 0.003nm
3，主要特点：

带有反馈系统的载荷加载系统 

灵活的试样夹具可夹持各种尺寸试样

高质量光学显微镜观测系统 

计算机软件包，自动进行数据获取、储存、分析等 丰富、灵活的扩展空间
4，选件：
其它力学测试模块（如微纳米划痕、微纳米摩擦磨损仪，纳米划痕等） 

环境(温度、湿度）控制 
原子力显微镜成像系统

三维表面形貌仪扫描系统 
环境隔离罩 

5，公司简介：

美国NANOVEA仪器公司二十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括： 
测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级压痕测试仪（纳米压痕仪, 显微压痕仪）； 
界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ； 包括高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ； 高端膜厚测试仪； 用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦三维表面形貌仪。