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X-Strata980(X荧光镀层测厚 及 元素分析仪)
产品简介：
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积
的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，
能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，
帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系
数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别
出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱
门使样品更易放入。
应用:
--RoHS/WEEE
--有害元素痕量分析
--焊料合金成分分析和镀层厚度测量
--电子产品中金和钯镀层的厚度测量
--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
--贵金属合金分析和牌号鉴定
产品特点:
--100瓦X射线管
--25mm2PIN 探测器
--多准直器配置
--扫描分析及元素分布成像功能
--灵活运用多种分析模型
--清晰显示样品合格/不合格
--超大样品舱
--同时分析元素含量和镀层厚度
技术参数:
--元素范围:S(16) to U(92)
--可测镀层层数:5 层 (4 层+ 底材),可同时分析25种元素成份
--X射线管功率:100W (50kV and 2mA)微焦点钨靶X射线管
--探测器:25mm2 PIN 电制冷固态探测器
--滤波器/准直器:4种初级滤波器 /最多安装4种准直器规格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm ?)
--数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动波谱校正和Pulse Pile Rejection功能
--电脑/显示器/系统软件
Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
15”LCD, 1024 x 768
MicrosoftTM XP SP2
--摄像系统:1/2” CMOS-640480 VGA resolution
--电源:85~130V or 215~265 V, 频率47Hz to 63Hz
--工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
--XYZ轴行程: 203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)
--最大样品尺寸
305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为 50mm (2”)
305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为 203mm (8”)
--舱室尺寸: (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)
--外型尺寸
高765mm (30.1”)
宽 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended
深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended
--重量: 135 kg