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发货期限: 自买家付款之日起 7 天内发货 | 所在地: 河南 周口市 |
有效期至: 长期有效 | 品牌: |
详情介绍
技术参数:
●测定原理 X射线荧光分析法
●测定方法 能量色散型
●测定对象 固体、液体、粉体
●样品形状 最大150mm× 150mm× 40mmH
●X射线管 Rh靶
●检测器 Si(Li)半导体检测器(μEDX-1200/1300型)
Si漂移半导体检测器(μEDX-1400型)
●测定范围 13Al ~ 92U (μEDX-1200型)
11Na ~ 92U (μEDX-1300型)
13AL ~ 92U (μEDX-1400型) 主要特点:
μEDX系列X射线荧光光谱仪可以高灵敏度地分析很小的样品。对于需要高分辨率同时高X射线强度才能进行测定的电子部件、电路板以及材料中的异物等微小局部的测定,本装置可进行高灵敏度、高分辨率,分析直径最小至50μm的分析。
●测定原理 X射线荧光分析法
●测定方法 能量色散型
●测定对象 固体、液体、粉体
●样品形状 最大150mm× 150mm× 40mmH
●X射线管 Rh靶
●检测器 Si(Li)半导体检测器(μEDX-1200/1300型)
Si漂移半导体检测器(μEDX-1400型)
●测定范围 13Al ~ 92U (μEDX-1200型)
11Na ~ 92U (μEDX-1300型)
13AL ~ 92U (μEDX-1400型) 主要特点:
μEDX系列X射线荧光光谱仪可以高灵敏度地分析很小的样品。对于需要高分辨率同时高X射线强度才能进行测定的电子部件、电路板以及材料中的异物等微小局部的测定,本装置可进行高灵敏度、高分辨率,分析直径最小至50μm的分析。
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