华商宝

频率范围:300kHz到3.2GHz
A338矢量网络分析仪频率范围 300KHZ到8.5GHZ
频率分辨率:1mHz
IF带宽设置:1Hz到30kHz
功率范围:-45dBm到+10dBm
功率精度:±1dB
显示:10.4英寸TFT彩色液晶触摸屏
用户界面:USB2.0、以太网、键盘、鼠标、打印机、视频
测量参数：S11、S21、S12、S22
测量通道数量:最大到16个独立的逻辑通道, 一个逻辑通道被定义为某一激励信号设置,如频率范围、测试点数、功率等每个逻辑通道在屏幕上作为独立的通道窗口显示。
数据跟踪：最大到16个数据迹线显示在各自的通道窗口上,一个数据迹线显示被测器件的某一参数,如S参数、时域响应、输入功率响应。
存储跟踪：16个数据迹线的每一个都能将当前值保存到存储器用于比较。
数据显示格式：对数幅值、线性幅值、相位、延长相位、群延迟、驻波比实部、虚部、史密斯圆图、极坐标
数据标记：每个迹线最大到16个标记,对增量标记操作可应用参考标记
史密斯圆图支持5种标记格式:线形幅值相位、对数幅值相位、R + jX 和 G + jB极坐标支持3种标记格式:线形幅值相位、对数幅值相位、实部、虚部标记功能
标记搜索:搜索最大值、最小值、峰值、左峰值、右峰值、目标值、目标左值、目标右值、带宽参数
搜索范围设置:特定值跟踪或单一操作搜索功能
通过标记设置参数:通过标记的激励值设置开始、停止、中心频率, 通过标记的响应值设置参考电平
扫描测量点数:用户自行设置2到10001
当激励功率为固定值时：线性扫描、对数扫描、分段扫描
当频率为固定值时：线性功率扫描
分段扫描特性:在几个独立的用户定义的分段内频率扫描。应为每个分段设置频率范围、扫描点数、源功率和IF带宽
功率:源功率-45到+10dBm,精度为0.05dB,在频率扫描模式中功率斜率可设置到最高2dB去补偿连接线中高频衰减
扫描触发模式：连续、单次、保持
触发源：内部、手动、外部
迹线显示:数据迹线、存储器迹线或数据和存储器迹线同时显示
通过数学运算更改数据迹线：对被测复杂值和存储器数据进行加、减、乘、除
自动刻度:自动选择刻度和基准值具有最有效的显示迹线
电延迟:在低损耗测试设置中、将校准面移动、对延迟补偿,被测器件线性相位的偏离测量时的电延迟补偿
相位偏移:相位偏移指定度数
统计:计算和显示数据迹线的平均值、标准偏差、峰偏差
熟悉图形用户界面:基于Windows 操作系统的图形用户界面,保证了用户快捷和容易的仪器使用
分析仪控制:使用个人电脑
图表打印、储存:预览、存储和打印可通过MS Work, Windows图象浏览器或分析仪打印向导来完成
编程功能:COM、DCOM自动控制
阻抗: 50Ω、75Ω
测试端口连接器: N-type、female
测试端口数量: 2
全部连续波形频率精度:±5×10
测量点数: 2 to10001
动态范围: 130dB
每个点测量时间: 125微秒
源到接收端口转换时间: 10ms
测量点数: 51、201、401、1601
开始300kHz、停止10MHz、IF带宽30kHz
未校正: 13ms、52ms、104ms、413ms
全二端口校准: 46ms、123ms、226ms、844ms
开始10MHz、停止3.2GHz、IF带宽30kHz
未校正: 7ms、27ms、53ms、207ms
全二端口校准: 34ms、73ms、125ms、434ms
工作温度范围: +5℃to +40℃
存储温度范围: -45℃to +55℃
校准:测试设置的校准显著地增加测量的精度。校准允许对测量系统的不完整性引起的误差进行校正：系统的定向、输出源和负载匹配、跟踪和隔离
校准方法:可以采用多种混合校准方法来提高精度水平。其中最精确的是全一端口校准和全二端口校准
反射和传输标准化:对反射和传输测量的频响误差的幅度和相位校正
全一端口校准:频响的幅度和相位校正,对一端口反射测量定向和输出源匹配误差校正
单路二端口校准:进行反射和单路传输测量,类似于一端口反射测量,频响的幅度和相位校正,对反射测量的输出源匹配误差校正
全二端口校准:进行被测器件的全部的S参数矩阵测量,对反射和传输测量的频响的幅度和相位校正定向和输出源匹配和负载匹配和隔离。
定向校准:定向校正附加到反射校正
隔离校准:隔离校正附加到传输校正。全二端口校准中的单路二端口校准
纠错插补:当使用者改变设置,如开始、停止频率和扫描点数,与校准时的设置进行比较、插补或校准推定被实行
端口阻抗转换:在50Ω端口测量的S参数能转换为在任意阻抗的测试端口被测定的值
去嵌入:此功能允许将连接校准面和被测器件的夹具回路的作用从测量结果中算术地除去。
嵌入:此功能允许将校准面和被测器件的夹具回路虚拟集成后,算术地模拟被测器件参数
此功能允许测量的S参数转换为如下参数：反射阻抗、导纳、传输阻抗和导纳、S参数的倒转