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| 有效期至： 长期有效 | 品牌： |
详情介绍
阿贝比较仪使基于阿贝原理而设计的高精度长度计量仪器。太仪器主要用于测量二线之间的距离及平面上两点之间的距离：如对200mm以下短标尺的检定；对光谱图形及光学仪器中的分划板的精密测量等等。并可作为摄谱仪的成套附件。技术规格：测量范围：
200mm标尺分度：
1mm读数显微镜分度值：
0.001mm读数显微镜放大倍数： 50X对线显微镜放大倍数： 30X对线工作距离：
50mm仪器测量误差：
式中：L—被测件测量长度，单位：mm H—被测面距工作台面高度，单位mm仪器体积：
620X300X400mm仪器重量：
40kg
200mm标尺分度：
1mm读数显微镜分度值：
0.001mm读数显微镜放大倍数： 50X对线显微镜放大倍数： 30X对线工作距离：
50mm仪器测量误差：
式中：L—被测件测量长度，单位：mm H—被测面距工作台面高度，单位mm仪器体积：
620X300X400mm仪器重量：
40kg
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