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用途和特点： 可广泛适用于光学及机械制造业中，计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、
北京
比较仪
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用途和特点： 可广泛适用于光学及机械制造业中，计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量；导轨的直线度及平板的平面度校准测量；两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。 该系列仪器操作简便、直观，测量稳定可靠，借助辅助设备用途广泛。
技术参数：
型号Model
示值Graduation
分度范围Scale Range
目镜放大倍率Magnification
示值不确定度Uncertainty
工作距离范围working range
外形Dimension(D×W×H)
XQ60-ZⅠ
1′
V60′,H40′
10×/15×
±6″
0～1.4m
200×250×400
XQ15-ZⅡ
15″
V50′,H38′
20×
±3″
选配件：CCD监控系统（适用ZI型）
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