插回损测试仪

插回损测试仪光回波损耗测试工作波长:1310/1550nm测试范围:0~73dB校准波长:1310/1550nm测试精度:0.25dB输出稳定性:0.05dB/

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  • 产地:

    上海

  • 产品类别:

    通讯检测仪器

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    长期有效

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产品参数

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详情介绍

插回损测试仪

光回波损耗测试

工作波长:1310/1550nm

测试范围:0 ~ 73 dB

校准波长:1310/1550nm

测试精度:0.25dB

输出稳定性:0.05dB/小时 ( @ 25℃)

光接口:FC/APC

光插入损耗测试

校准波长:850/980/1310/1490/1550nm

测试范围:+3 ~ -70 dBm

测试精度:0.25dB

显示分辨率:对数:0.01dB;线性:0.01nw/μW/mW

光接口:活动接口+FC/SC/ST/通用φ2.5mm适配器+LCφ1.25mm适配器

整机指标

电源:AC 85-264V,50/60Hz

工作温度:-10℃~+60℃

工作湿度:≤85%RH

储存温度:-20~+70℃

外观尺寸:23.0×26.0×11.7cm

 

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