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LED快速EL特性测试系统

 LED快速EL特性测试系统M2442S-9A1.2〞GaN晶圆/外延片测试;测试VF、亮度、波长、半波宽等2.LEDWafer平均分布9点位置测量,产线

  • 产品单价: 1.00元/台
  • 品牌名称:

  • 产地:

    广东 深圳市

  • 产品类别:

    其他光学仪器

  • 有效期:

    长期有效

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LED快速EL特性测试系统
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产品参数

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发货期限: 自买家付款之日起 天内发货 所在地: 广东 深圳市
有效期至: 长期有效 品牌:

详情介绍

 

LED快速EL特性测试系统

M2442S-9A

1.2〞GaN晶圆/外延片测试;测试VF、亮度、波长、半波宽等

2.LED Wafer平均分布9点位置测量,产线中端QC最佳利器

3.自动/半自动测量模式,30秒内自动测试完9点之数据

4.搭配台湾维明LED测试机,光电参数全部测量

5.软件功能强大,自动保存设定参数与测量数据,光谱图等6.大面积探针防止人工点铟ball误差,保护光罩防止背景光

  误差                                                                                      

7.模块化结构,可灵活搭配客户自备的LED测试仪进行整合

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